Difração de Raio-X

DX-2700BH Difratômetro de Raio-X multiuso

Os Difratômetros de raios-X multiuso e difratômetros de raios X de alta resolução são amplamente utilizados em vários campos de análise estrutural de diversos materiais.

Os materiais analisáveis ​​incluem:

  • Materiais metálicos,
  • Materiais inorgânicos,
  • Materiais compostos,
  • Materiais orgânicos,
  • Nanomateriais,
  • Materiais supercondutores. 

Os estados do material que podem ser analisados ​​incluem: amostras de pó, amostras em massa, amostras de filmes e micro-amostras de microrregiões.

Amplamente utilizado em minerais de argila, materiais de construção de cimento, poeira ambiental, produtos químicos, produtos farmacêuticos, amianto, rochas, minerais e outros campos de pesquisa.

Projetado para pesquisa de materiais e análise de produtos industriais, o DX-2700BH é um produto abrangente que combina análises de rotina com medições para fins especiais.
• A combinação perfeita de sistema de hardware e sistema de software para atender às necessidades de acadêmicos e pesquisadores em diferentes campos de aplicação
• Sistema de medição de ângulo de difração de alta precisão para resultados de medição mais precisos
• Sistema de controle de gerador de raios X altamente estável para uma precisão de medição de repetição mais estável
• Vários acessórios funcionais atendem às necessidades de diferentes fins de teste
• Operação programática, design de estrutura integrada, operação fácil, com estrutura firme e contorno elegante

Difratômetro de raios-X é um instrumento de teste universal que revela a estrutura cristalina e informações químicas dos materiais.

• Identificação de uma e muitas fases em amostras desconhecidas
• Análise quantitativa de fases conhecidas em amostras mistas
• Análise da estrutura cristalina (análise da estrutura de Rietveld)
• Alterações na estrutura cristalina sob condições não convencionais (a alta temperatura e baixa temperatura)
• Análise de amostra de filme, incluindo fase de filme, espessura de filme multicamada, rugosidade superficial, densidade de carga
• Análise de amostras de microrregiões
• textura material de metal, análise de tensão

A combinação de qualidade perfeita e desempenho superior
• Além das funções básicas, o DX-2700BH de difratômetros pode rapidamente configurar uma variedade de acessórios para capacidades analíticas superiores. Sistema de medição de ângulo de difração de alta precisão para resultados de medição mais precisos
• Usinagem de alta precisão melhora muito a reprodutibilidade da posição de fixação.

O software reconhece automaticamente os acessórios correspondentes, não há necessidade de calibrar o caminho óptico e a instalação do acessório é plug-and-play. A operação mais simples pode atender a necessidade de medição de propósito especial.

A combinação perfeita de alto desempenho e praticidade

• Baseado no design óptico geométrico θ-θ, fácil preparação de amostras e instalação de vários acessórios
• A aplicação do tubo de raios-X cermet melhora consideravelmente a potência de operação do difratômetro
• Contador proporcional fechado, durável e livre de manutenção
• Detector de desvio de silício com resolução angular e resolução de energia superiores, medindo mais de 3 vezes mais rápido
• Uma variedade de acessórios difratômetro para atender diferentes fins analíticos
• Identificação automática de vários acessórios funcionais do difratômetro
• Projeto modular ou montagem plug-and-play, o operador não precisa calibrar o sistema óptico, o uso correto dos acessórios do difratômetro

 

RECURSOS DO SOFTWARE DE PROCESSAMENTO DE DADOS

• Funções básicas de processamento de dados (detecção de pico, suavização, subtração de fundo, ajuste de formato de pico, amplificação de forma de pico, contraste espectral, Kα1, remoção de α2, indexação de linha de difração, etc.)
• Rápida análise quantitativa de amostras não padronizadas
• Medição do tamanho de grãos
• Análise da estrutura cristalina (medição e refinamento dos parâmetros da célula)

• Medição de Tensão do cálculo macro e micro
• Exibição 2D e 3D de vários desenhos
• Análise de agrupamento de mapas de pico de difração
• Curva de correção de meia largura de dados de difração
• Curva de calibração do desvio de ângulo dos dados de difração
• Análise quantitativa de rotina baseada em Rietveld
• Análise qualitativa de objetos usando banco de dados ICDD ou banco de dados de usuários
• Análise quantitativa usando o banco de dados do ICDD ou o banco de dados do ICSD

ASSISTÊNCIA TÉCNICA e PÓS VENDA

Os usuários da linha de produtos fabricados pela HAOYUAN Analytical, podem contar com a experiência da equipe de engenheiros da ACIL & Weber.
Há 36 anos fornecendo soluções analíticas completas, única no segmento com assistência técnica certificada ISO 9001 pela D.N.V.